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  • 3544 直流電阻測(cè)試儀
    3544 直流電阻測(cè)試儀

    更新日期:2021-05-11

    瀏覽量:1216

    3544 直流電阻測(cè)試儀 基本精度 0.02%,Z小分辨率 0.1μ Ω , Z大測(cè) 試電流 1A 可測(cè)范圍 0.000mμ Ω ~3.5MΩ 通過保護(hù)端口使用的探頭并提高測(cè)試電流,實(shí)現(xiàn)抗干擾測(cè)量 使用比較判斷燈(選件)和大音量的判斷音,可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確判斷合格與否 帶適合 NPN/PNP 的 EXT I/O 接口,可用于各種自動(dòng)產(chǎn)線中熱敏電阻測(cè)試功能【選配熱敏電阻測(cè)試卡】
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  • * CHT3562 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
    * CHT3562 電池內(nèi)阻測(cè)試儀

    更新日期:2017-06-13

    瀏覽量:1567

    * CHT3562 電池內(nèi)阻測(cè)試儀 測(cè)試性能*匹配Hioki 3561。3560標(biāo)配RS232C接口,配合和普科技數(shù)據(jù)采集軟件,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量,準(zhǔn)確快速的判斷電池劣化情況,適用于電池流水線上的產(chǎn)品分選和出廠檢驗(yàn)。
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  • 多通路電阻測(cè)試儀
    多通路電阻測(cè)試儀

    更新日期:2018-03-13

    瀏覽量:1944

    多通路電阻測(cè)試儀 采用高性能ARM微處理器控制。真彩4.3寸液晶Z大可同時(shí)顯示48路電阻值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,多路電阻測(cè)試儀3541X可以測(cè)試10μΩ~300KΩ的電阻,Z大顯示30,000數(shù)。
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  • 高速電池內(nèi)阻測(cè)試儀3563/-A/-B
    高速電池內(nèi)阻測(cè)試儀3563/-A/-B

    更新日期:2021-04-26

    瀏覽量:1605

    高速電池內(nèi)阻測(cè)試儀3563/-A/-B:內(nèi)阻分辨率0.0001mΩ,精度 0.3% 電壓量程Z高800V,分辨率0.00001V 精度 0.01% 支持多路測(cè)試[選配多路掃描盒] 測(cè)試速度Z快70次/秒配套自動(dòng)分選機(jī)高速分選 標(biāo)配RS232接口、handler接口 高精度鋰電池內(nèi)阻、電壓檢測(cè) 配套自動(dòng)分選機(jī)進(jìn)行電池內(nèi)阻+電壓自動(dòng)測(cè)試 電池的劣化狀態(tài)和壽命評(píng)估評(píng)估 超級(jí)電容(低內(nèi)阻電容)的ESR測(cè)試
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  • 熱敏電阻測(cè)試儀SMR3544
    熱敏電阻測(cè)試儀SMR3544

    更新日期:2021-04-26

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    熱敏電阻測(cè)試儀SMR3544:基本精度0.02%,Z小分辨率0.1μΩ,測(cè)試電流1A,可測(cè)范圍0.000mμΩ~3.5MΩ。通過保護(hù)端口使用的探頭提高測(cè)試電流,實(shí)現(xiàn)抗干擾測(cè)量。使用比較判斷燈(選件)和大音量的判斷音,可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確判斷合格與否。 帶適合NPN/PNP的EXT I/O接口,可用于各種自動(dòng)產(chǎn)線中熱敏電阻測(cè)試功能【選配熱敏電阻測(cè)試卡】
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  • 多路電阻測(cè)試儀3541X
    多路電阻測(cè)試儀3541X

    更新日期:2022-04-08

    瀏覽量:1520

    多路電阻測(cè)試儀3541X是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路阻抗測(cè)試儀,采用結(jié)構(gòu)緊湊的插卡式設(shè)計(jì),插卡可分為采集卡、報(bào)警卡、可任意配置。每張測(cè)試卡可對(duì)8路阻抗進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩4.3寸液晶可同時(shí)顯示48路阻抗值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,SMR3541X可以測(cè)試10μΩ~300KΩ的阻抗,顯示30,000數(shù)。
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  • 絕緣電阻測(cè)試儀3530
    絕緣電阻測(cè)試儀3530

    更新日期:2021-04-26

    瀏覽量:1288

    絕緣電阻測(cè)試儀3530:4.3 寸 TFT 真彩液晶顯示同時(shí)顯示電壓、電阻、漏電流寬量程高精度測(cè)試絕緣電阻測(cè)試范圍Z高可達(dá)1Ω-10000TΩ(10~1016Ω) Z高精度 0.3% 表面電阻、體積電阻[僅CHT3530] <1G:± 1% ≥1G: 3% ≥10G :5% ≥1T:10% ≥100T: 20% 測(cè)試電壓 0.001V~1000V, 連續(xù)可調(diào),電壓精度 0.05%
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  • 絕緣電阻測(cè)試儀3530/-1
    絕緣電阻測(cè)試儀3530/-1

    更新日期:2021-04-25

    瀏覽量:1180

    絕緣電阻測(cè)試儀3530/-14.3 寸 TFT 真彩液晶顯示 同時(shí)顯示電壓、電阻、漏電流 寬量程高精度測(cè)試 絕緣電阻測(cè)試范圍Z高可1Ω-10000TΩ(10~1016Ω) Z高精度 0.3% 表面電阻、體積電阻[僅CHT3530] <1G:± 1% ≥1G: 3% ≥10G :5% ≥1T:
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